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产品信息
制造商ONSEMI
制造商产品编号FDC6301N..
库存编号1700673RL
技术数据表
晶体管极性N沟道
通道类型N通道
漏源电压, Vds25V
漏源电压Vds N沟道25V
电流, Id 连续220mA
漏源电压Vds P沟道-
在电阻RDS(上)5ohm
连续漏极电流 Id N沟道220mA
连续漏极电流 Id P沟道-
晶体管安装表面安装
漏源通态电阻N沟道5ohm
Rds(on)测试电压4.5V
漏源导通电阻P沟道-
晶体管封装类型SuperSOT
阈值栅源电压最大值850mV
针脚数6引脚
功耗 Pd900mW
耗散功率N沟道900mW
耗散功率P沟道-
工作温度最高值150°C
产品范围-
合规-
汽车质量标准-
MSLMSL 1 -无限制
SVHC(高度关注物质)No SVHC (27-Jun-2024)
产品概述
The FDC6301N is a dual N-channel logic level enhancement-mode FET with high cell density and DMOS technology. It is very high density process is especially tailored to minimize ON-state resistance. It has been designed especially for low voltage applications as a replacement for digital transistors. Since bias resistors are not required, this N-channel FET's can replace several digital transistors, with a variety of bias resistors.
- Very low level gate drive requirements allowing direct operation in 3V circuits
- Gate-source Zener for ESD ruggedness
- -0.5 to 8V Gate to source voltage
- 0.22A Continuous drain/output current
- 0.5A Pulsed drain/output current
警告
该产品的市场需求较大, 导致交货时间延长, 交货日期可能会有延迟.
技术规格
晶体管极性
N沟道
漏源电压, Vds
25V
电流, Id 连续
220mA
在电阻RDS(上)
5ohm
连续漏极电流 Id P沟道
-
漏源通态电阻N沟道
5ohm
漏源导通电阻P沟道
-
阈值栅源电压最大值
850mV
功耗 Pd
900mW
耗散功率P沟道
-
产品范围
-
汽车质量标准
-
SVHC(高度关注物质)
No SVHC (27-Jun-2024)
通道类型
N通道
漏源电压Vds N沟道
25V
漏源电压Vds P沟道
-
连续漏极电流 Id N沟道
220mA
晶体管安装
表面安装
Rds(on)测试电压
4.5V
晶体管封装类型
SuperSOT
针脚数
6引脚
耗散功率N沟道
900mW
工作温度最高值
150°C
合规
-
MSL
MSL 1 -无限制
技术文档 (1)
法律与环境
原产地:
进行最后一道重要生产流程所在的地区原产地:United States
进行最后一道重要生产流程所在的地区
进行最后一道重要生产流程所在的地区原产地:United States
进行最后一道重要生产流程所在的地区
税则号:85412900
US ECCN:EAR99
EU ECCN:NLR
RoHS 合规:是
RoHS
RoHS 邻苯二甲酸盐合规:是
RoHS
SVHC:No SVHC (27-Jun-2024)
下载产品合规证书
产品合规证书
重量(千克):.000091