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产品信息
制造商ONSEMI
制造商产品编号FDG8850NZ
库存编号1498956RL
技术数据表
晶体管极性N沟道
通道类型N通道
漏源电压, Vds30V
漏源电压Vds N沟道30V
电流, Id 连续750mA
漏源电压Vds P沟道-
在电阻RDS(上)0.25ohm
连续漏极电流 Id N沟道750mA
连续漏极电流 Id P沟道-
晶体管安装表面安装
漏源通态电阻N沟道0.25ohm
Rds(on)测试电压4.5V
漏源导通电阻P沟道-
晶体管封装类型SC-70
阈值栅源电压最大值1V
针脚数6引脚
功耗 Pd360mW
耗散功率N沟道360mW
耗散功率P沟道-
工作温度最高值150°C
产品范围-
合规-
汽车质量标准-
湿气敏感性等级MSL 1 -无限制
SVHC(高度关注物质)No SVHC (27-Jun-2024)
产品概述
The FDG8850NZ is a dual N-channel logic level enhancement-mode MOSFET with high cell density and DMOS technology. This very high density process is especially tailored to minimize ON-state resistance. This device has been designed especially for low voltage applications as a replacement for bipolar digital transistors and small signal MOSFETs. Since bias resistors are not required, this dual digital FET can replace several different digital transistors, with different bias resistor values.
- Very small package outline
- Very low level gate drive requirements allowing direct operation in 3V circuits (VGS (th) <lt/>1.5V)
- ±12V Gate to source voltage
- 0.75A Continuous drain current
- 2.2A Pulsed drain current
技术规格
晶体管极性
N沟道
漏源电压, Vds
30V
电流, Id 连续
750mA
在电阻RDS(上)
0.25ohm
连续漏极电流 Id P沟道
-
漏源通态电阻N沟道
0.25ohm
漏源导通电阻P沟道
-
阈值栅源电压最大值
1V
功耗 Pd
360mW
耗散功率P沟道
-
产品范围
-
汽车质量标准
-
SVHC(高度关注物质)
No SVHC (27-Jun-2024)
通道类型
N通道
漏源电压Vds N沟道
30V
漏源电压Vds P沟道
-
连续漏极电流 Id N沟道
750mA
晶体管安装
表面安装
Rds(on)测试电压
4.5V
晶体管封装类型
SC-70
针脚数
6引脚
耗散功率N沟道
360mW
工作温度最高值
150°C
合规
-
湿气敏感性等级
MSL 1 -无限制
FDG8850NZ 的替代之选
找到 1 件产品
法律与环境
原产地:
进行最后一道重要生产流程所在的地区原产地:Philippines
进行最后一道重要生产流程所在的地区
进行最后一道重要生产流程所在的地区原产地:Philippines
进行最后一道重要生产流程所在的地区
税则号:85412900
US ECCN:EAR99
EU ECCN:NLR
RoHS 合规:是
RoHS
RoHS 邻苯二甲酸盐合规:是
RoHS
SVHC:No SVHC (27-Jun-2024)
下载产品合规证书
产品合规证书
重量(千克):.000069